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AOI 알고리즘 상세 설명 - 알고리즘 누락

2025-06-23

AOI 알고리즘 상세 설명 - Missing 알고리즘

Shenzhou Vision의 AOI(자동 광학 검사 장비)의 20개 이상의 알고리즘 중, Missing 알고리즘이라는 알고리즘이 있습니다. 이는 콘덴서의 부품 누락을 위한 특정한 이미지 처리 알고리즘입니다. 이 알고리즘은 표준 콘덴서의 두 전극 외부 사각형과 검사 대상 콘덴서의 두 전극 외부 사각형의 면적 차이를 비교하여 전극에 부품 누락이 있는지 여부를 판단하고 감지합니다. 아래 그림 참조:

Aleader 알고리즘 상세 설명 - Missing 알고리즘

위 그림은 Missing 부품이 발생했을 때의 부품 개략도입니다. ①은 정상 부품의 양쪽 끝에 있는 두 개의 강조된 전극 영역의 외부 사각형을 나타내고, ②은 Missing 부품이 발생했을 때 양쪽 끝에 있는 두 개의 강조된 영역의 외부 사각형을 나타냅니다. 그러면 Missing 알고리즘에 따른 차이 값은 다음과 같습니다:

결과 = (S2 - S1) / S1 – 1

여기서 S2는 외접 사각형 B의 면적을 나타내고, S1은 외접 사각형 A의 면적을 나타냅니다.

힌트: Missing 알고리즘의 기본 판정 범위는 (0, 15)입니다.

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